這款設(shè)備是由上海頂策科技自主研發(fā)的集成電路動態(tài)老化設(shè)備，TH801，該設(shè)備有如下特點：1、 具備自有專利技術(shù)，輕松實現(xiàn)實時在線監(jiān)測技術(shù)，可以監(jiān)控老化過程中的每顆芯片的電氣參數(shù)，包括電壓，電流，頻率、寄存器數(shù)據(jù)等，并且實時記錄保存，非常有利于HTOL問題分析和追溯。2、 通過數(shù)據(jù)監(jiān)控，可以確保芯片處于正常的老化狀態(tài)，保證老化測試質(zhì)量。3、 監(jiān)控數(shù)據(jù)異常時自動報警，可以隨時發(fā)現(xiàn)芯片質(zhì)量問題，并介入分析，大大提高老化測試效率，節(jié)省更多時間成本和失效分析成本。4、 全程數(shù)據(jù)監(jiān)控記錄，讓質(zhì)量報告更有說服力，客戶更放心。5、 設(shè)備體積小，重量輕，功耗小，節(jié)能環(huán)保，干凈整潔6、 設(shè)備操作簡單，易于上手，并且支持遠程操作。以上優(yōu)點都特別適合目前對質(zhì)量要求比較高的，汽車電子芯片的可靠性測試，歡迎大家一起來探討芯片老化測試的技術(shù)難題，一起為國產(chǎn)芯片測試設(shè)備的發(fā)展助力。